晶體管檢測
檢測標(biāo)準(zhǔn)參考
ASTM E1855-2010使用2N2222A硅雙極晶體管作為中子光譜傳感器和位移損失監(jiān)視器的試驗方法
ASTM F996-2011利用亞閥值電流-電壓特性將由于氧化物封閉孔和界面狀態(tài)引起的電離輻射感應(yīng)金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管閥值電壓漂移分離成若干分量的試驗方法
BS EN 120003-1993電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系.空白詳細(xì)規(guī)范.光電晶體管、光電復(fù)合晶體管、光電晶體管陣列
BS EN 120004-1993電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系.空白詳細(xì)規(guī)范:規(guī)定環(huán)境的有光電晶體管輸出的光電耦合器
BS EN 150003-1993電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系規(guī)范.空白詳細(xì)規(guī)范.低頻放大用管殼額定雙極晶體管
BS EN 150004-1993電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系規(guī)范.空白詳細(xì)規(guī)范.開關(guān)用雙極晶體管
BS EN 150007-1993電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系規(guī)范.空白詳細(xì)規(guī)范.高頻放大用管殼額定的雙極晶體管
BS EN 150012-1993電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系規(guī)范.空白詳細(xì)規(guī)范.單柵場效應(yīng)晶體管
BS IEC 60747-4-1-2000微波二極管和晶體管.微波場效應(yīng)晶體管.空白詳細(xì)規(guī)范
BS IEC 60747-4-2-2000半導(dǎo)體器件.分立器件.微波二極管和晶體管.集成電路微波放大器.空白詳細(xì)規(guī)范
BS IEC 60747-8-4-2004半導(dǎo)體分立器件.電力開關(guān)設(shè)備的金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管
BS IEC 60747-8-2000半導(dǎo)體器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 替代BS 6493-1.8:1985
BS IEC 60747-9-2007分立半導(dǎo)體器件和集成電路.隔離柵二極晶體管(IGBTs)
CB/T 3435-2013船用繼電器修理要求
CECC 20 004- 001 ED 1-1984環(huán)境額定光電晶體管輸出光電耦合器
CECC 20 004- 002 ISSUE 3-1987環(huán)境額定光電晶體管輸出光電耦合器
CECC 20 004- 003 ED 1-1988環(huán)境額定光電晶體管輸出光電耦合器
CECC 20 004- 004 ISSUE 1-1984環(huán)境額定光電晶體管輸出光電耦合器
CECC 20 004- 006 ISSUE 1-1988SFH601輸出光電晶體管光電耦合器
CECC 20 004- 007 ISSUE 1-1988SFH610,SFH611輸出光電晶體管光電耦合器
