通信用光電子器件高溫貯存試驗
健明迪檢測提供的通信用光電子器件高溫貯存試驗，通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗范圍 1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，具有CMA，CNAS資質。
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗范圍
1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗標準
試驗標準
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求
EN 60749-6-2002 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第6部分：高溫儲存
GB/T 4937.23 半導體器件機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命
DZ 0039.11-1992 地質儀器產品基本環(huán)境試驗條件及方法 高溫/高壓綜合試驗
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合
GB/T 21194通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求
EN 60749-6-2002 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第6部分：高溫儲存
GB/T 4937.23 半導體器件機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命
DZ 0039.11-1992 地質儀器產品基本環(huán)境試驗條件及方法 高溫/高壓綜合試驗
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗背景
電子元器件的失效很多是由于環(huán)境溫度造成體內和表面的各種物理、化學變化所引起的。溫度升高后，使得化學反應速率大大加快，其失效過程也得到加速，使有缺陷的元器件能及時暴露。通信用光電子器件高溫貯存試驗可確定光電子器件能否經受高溫下的運輸和貯存，以保證光電子器件經受高溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業(yè)的高溫貯存試驗服務。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業(yè)的高溫貯存試驗服務。
通信用光電子器件高溫貯存試驗 試驗方法
按以下程序進行試驗：
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的恒溫控制試驗箱中，在開始計時之前應有足夠升溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應位于工作區(qū)內最低溫度的位置處；
c）在達到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，并對試樣光電特性進行測試。
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的恒溫控制試驗箱中，在開始計時之前應有足夠升溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應位于工作區(qū)內最低溫度的位置處；
c）在達到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，并對試樣光電特性進行測試。
